單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì)——XJP-6A金相顯微鏡 利用單偏光鏡鑒定晶體光學(xué)性質(zhì)時,僅使用偏光顯微鏡中的下偏光鏡,而不使用錐光鏡、上偏光鏡和勃氏鏡等光學(xué)部件,利用下偏光鏡觀察、測定晶體光學(xué) …,晶體光學(xué)試題答案 1、要測定礦物的軸性和光性符 號,應(yīng)該選擇在正交偏光下干涉色的切面。 （ ） 2、在同一巖石 薄 片中,同種礦物不同方向的切面上,其干涉色不同。 （ √ ） 3、對于一軸 …（4）⊥Bxa切面與和晶面一致？該切面光率體橢圓半徑名稱？ （5）欲觀察橙黃色顏色,應(yīng)找何切面？ 20. 正交偏光鏡下在那些情況下視域變?yōu)槿冢?一．填空 1．按礦物晶體中光的傳播特征常可分為光性均質(zhì)體,后者又分為一軸晶和二軸晶。提供晶體光學(xué)2文檔免費(fèi)下載,摘要:1、要測定礦物的軸性和光性符號,應(yīng)該選擇在正交偏光下干涉色的切面。（×）2、在同一巖石薄片中,同種礦物不同方向的切面上,其干涉色不同。（√）3、對于一軸晶礦物來說,其延性和光性總是一致的。（√）4、兩非均質(zhì)體礦片在正交鏡間的4本課程分為晶體光學(xué)理論基礎(chǔ)和偏光顯微鏡下鑒定礦物實(shí)驗(yàn)兩個部分。 晶體光學(xué)理論基礎(chǔ)部分,要求熟悉光波在均質(zhì)體及非均質(zhì)體中的傳播特點(diǎn),掌握光率體概念及主要切面特征,熟悉七大晶系礦物的光性方位。篇 晶 體 光 學(xué) 章 晶體光學(xué)基礎(chǔ) 節(jié) 光的波動性 第二節(jié) 光的折射和全反射 第三節(jié) 自然光和偏振光 第四節(jié) 光在均質(zhì)體和非均質(zhì)體中的傳播特點(diǎn) 第五節(jié) 光率體 第六節(jié) 光性方位 章 晶體光學(xué)基礎(chǔ) 節(jié) 光的波動性 一 、 光是一種電磁波 其振動方向垂直于傳播方向,是一種橫波。

晶體光學(xué)思考題1、觀察二軸晶礦物多色性的明顯程度應(yīng)選擇哪種切面?為什么? 2、什么是閃突起？在你實(shí)習(xí)過的透明礦物中那些礦物具有閃突起現(xiàn)象？ 3、簡述礦物系統(tǒng)鑒定的步驟、切面選擇及主要的觀察內(nèi)容。 4、根據(jù)下表所列內(nèi)容對比均質(zhì)體光率體、一軸晶光率體和二軸晶光率體的特征,方解石是一種碳酸鈣礦物,天然碳酸鈣中最常見的是它。因此,方解石是一種分布很廣的礦物。方解石的晶體形狀多種多樣,它們的集合體可以是一簇簇的晶體,也可以是粒狀、塊狀、纖維狀、鐘乳狀、土狀等等。敲擊方解石可以得到很多方形碎塊,故名方解石。6 ．方解石 Calcite CaCO 3 三方晶系 光性特征：無色透明者為冰洲石（光學(xué)原料）,絕凈者為白色,含雜質(zhì)可呈現(xiàn)各種顏色；薄片中無色。閃突起顯著（ N 0 = 正突起, N 0 = 負(fù)突起）。干涉色為高級色。色散強(qiáng),即使是垂直光軸的切面也不全消光。（參考答案：Bxa=Np） 24、礦物的多色性在的切面上最不明顯。（參考答案：垂直光軸切面） 25、光波入射非均質(zhì)體礦片分解形成兩種偏光,其振動方向是。 （參考答案：相互垂直） 26、二軸晶光率體平行光軸面切片的干涉圖特征是。方解石光學(xué)標(biāo)型特征 - 摘要：方解石光學(xué)標(biāo)型特征 關(guān)鍵詞：方解石、光學(xué)標(biāo)型特征 連晶；灰白色；條痕白色；無色透明的是冰洲石,雜色者透明度差；玻璃光澤；硬度 2.50～ 3.75； 比重 2.6 ...課件：單偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì).ppt,§2.2礦物的多色性及吸收性非均質(zhì)體礦物對光波的選擇吸收和吸收總強(qiáng)度是隨方向而異。礦片顏色變化的現(xiàn)象稱為多色性；顏色深淺變化的現(xiàn)象稱為吸收性。MsBi圖3-8黑云母多色性和吸收性現(xiàn)象§2.3礦物的邊緣巖石薄片中,在兩種折射率不同的物質(zhì)接觸處,可以 ...

光率體,光率體,又稱光性指示體,是播時,光波振動方向與相應(yīng)折射率值之間關(guān)系的一種立體圖形。也可以說光率體是表示光波在晶體中各振動方向上折射率和雙折率變化規(guī)律的一個立體幾何圖形。晶體的任何切面都必然通過光率體的中心,各類晶體的光學(xué)性質(zhì)不同,所構(gòu)成的光率體形狀也不相同,現(xiàn)分述如下： 均質(zhì)體的光率體:光波在均質(zhì)體中傳播時,向任何方向振動,其傳播速度不變,折射率值相等。因此,均質(zhì)體的光率體是一個圓球體,如圖2-8-2。晶體光學(xué)試卷-1_理學(xué)_高等教育_教育專區(qū)。桂林理工大學(xué)考試試卷 （ 學(xué)年度 第 學(xué)期） 課程名稱：晶體光學(xué) 命 題 者： 試卷編號： 題號 得分 一、名詞解釋（每小題 4 分,共 20）： 1、光率體 2、 …實(shí)驗(yàn)七 正交偏光鏡下的晶體光學(xué)性質(zhì) ——干涉色級序、干涉色升降判 斷及光率體半徑方向和名稱的測定(2學(xué)時,驗(yàn)證性) 一、預(yù)習(xí)內(nèi)容： 消光、消色、干涉現(xiàn)象的原理,干涉色級序的基本特征,補(bǔ)色法則的原理 二、目的要求： 1.在正交鏡下放上非均質(zhì)體其它方向的切片,由于這種切片的光率體切面均為橢圓,當(dāng)橢圓切面的長、短半徑與上、下偏光鏡的振動方向（PP、AA）一致時,從下偏光鏡透出的振動方向平行PP的偏光,可以透過晶體而不改變原來的振動方向。二軸晶光率體切面及特點(diǎn)晶體,切面,特點(diǎn),光率體,軸晶光率體,二軸晶,軸切面,2光率體,光率體特征, 紅軸特點(diǎn) 頻道 豆丁首頁 社區(qū) 企業(yè)工具 創(chuàng)業(yè) 微案例 會議 熱門頻道 工作總結(jié) 作文 股票 醫(yī)療 文檔分類 論文 生活休閑 外語 心理學(xué) 全部 建筑頻道 ...

在正交偏光鏡下,透過下偏光鏡的偏光,射入晶體(非均質(zhì)體樣品)時,必然要發(fā)生雙折射,產(chǎn)生振動方向平行光率體橢圓切面長、短半徑的兩種偏光,即透過下偏光鏡的偏光,在光率體的橢圓切面長、短半徑方向上進(jìn)行矢量分解,晶體光學(xué)試題及答案(考試題) - 晶體光學(xué)試題答案 1、要測定礦物的軸性和光性符號,應(yīng)該選擇在正交偏光下干涉色的切面。 ... 并在圖上出其光率體橢園切面半徑的名 稱。 未加試板前干涉色為 …提供巖石學(xué)復(fù)習(xí)思考題word文檔在線閱讀與免費(fèi)下載,摘要:巖石學(xué)（含晶體光學(xué)）復(fù)習(xí)思考題2005.1晶體光學(xué)與造巖礦物學(xué)部分1．光性均質(zhì)體定義,特征和包括的礦物種類（高級晶族和非晶質(zhì)體）2．光性非均質(zhì)體定義,光在非均質(zhì)體中傳播的特征（A具有兩個或三個主折射率；B具有雙折射現(xiàn) …偏光顯微鏡結(jié)構(gòu)使用及注意事項(xiàng) 目錄偏光顯微鏡的結(jié)構(gòu)偏光顯微鏡的分類偏光顯微鏡原理及應(yīng)用偏光顯微鏡裝置要求偏光顯微鏡使用注意事項(xiàng)1、目鏡,2、鏡筒,3、勃氏鏡,4、粗動手輪,5、微調(diào)手 …（參考答案：平行光軸面、干涉色） 7、某二軸晶礦物的Y晶軸與光率體主軸Ng一致,其雙折率為0.009,薄片厚度為0.03mm,在平行（010）的切面上具有垂直Bxa切面的干涉圖,此礦物應(yīng)為光性,光軸面上的干涉色為。光性方位： 光率體主軸與晶體結(jié)晶軸間的關(guān)系。 2.中級晶族（一軸晶）的光性方位 光率體為旋轉(zhuǎn)橢球體,旋轉(zhuǎn)軸為Ne= 高次對稱軸(C軸) = OA。 課后作業(yè) 畫出 二軸晶光率體垂直O(jiān)A、垂直Bxa、垂直Bxo、平行OAP切面的切面,并指出各切面的雙折射率

光學(xué)顯微分析是利用可見光觀察物體的表面新貌和內(nèi)部結(jié)構(gòu),鑒定晶體的光學(xué)性質(zhì)。透明晶體的觀察可利用透射顯微鏡,如偏光顯微鏡。而對于不透明物體來說只能使用反射式顯微鏡,即金相顯微鏡。利用偏光顯微鏡和金相顯微鏡進(jìn)行晶體光學(xué)鑒定,是研究材料的重要方法之一,一、光的相干性 同一點(diǎn)光源發(fā)出的光,分成兩束光,再使這兩束光經(jīng)過不同路程后,在空間某一點(diǎn)相交,如果能滿足三個條件：①頻率相同,②振動方向相同,③位相相同或位相差固定,便在交點(diǎn)上產(chǎn)生干涉,形成相長增強(qiáng),或相消減弱的明暗相間干涉條紋。晶體光學(xué)及光性礦物學(xué),中國地質(zhì)大學(xué)出版社。本冊工具書是中國地質(zhì)大學(xué)（武漢）地學(xué)類系列精品教材之一,共收錄297條 ...二軸晶光率體的特征： 1.形狀 形狀 三軸不等橢球體 2.結(jié)構(gòu)要素 結(jié)構(gòu)要素 1) 三個主軸：三個互相⊥的光率體軸代表二軸晶礦物的三個主 要光學(xué)方向,稱為光學(xué)主軸,簡稱主軸(Ng、Nm、Np) 2) 三個主軸面： 包含任意兩個主軸的切面稱主軸面(切面), 二軸 ①光率體切面的長短軸是所要測的折射率。因此,在折射儀上出現(xiàn)的現(xiàn)象是寶石旋轉(zhuǎn)360°其刻面垂直折射儀長軸所構(gòu)成的光率體切面造成的,它們均可用晶體光學(xué)的理論來解釋。晶體光學(xué)及光性礦物學(xué)ppt是由紅軟PPT免費(fèi)下載網(wǎng)推薦的課件PPT類型的PowerPoint. 教 材 晶體光學(xué)及光性礦物學(xué),曾廣策等編著,中國地質(zhì)大學(xué)出版社,2006,O734/Z1 參考書 晶體光學(xué)與造巖礦物,林培英主編,地質(zhì)出版社,2005,P585.1/L5